ATP5104紫外增強高性能光纖光譜儀采用3072像素的紫外增敏線性CCD，是紫外、可見、近紅外光譜應用的理想選擇。

ATP5104紫外增強高性能光纖光譜儀產品簡介：

ATP5104是針對紫外光譜，特別研制的高性能紫外增強型微型光纖光譜儀，它采用3072像素的紫外增敏線性CCD，可以適應165-1100nm波長范圍的測試，CCD檢測器曝光時間可以控制在1ms之內，同時，為ATP5104特別定制了超低噪聲CCD信號處理電路，其量化噪聲小于3 counts，為業界*佳水平，可以幫助您可以獲得高的光譜信噪比。

ATP5104是紫外、可見、近紅外光譜應用的理想選擇，有不同的狹縫、光柵、反射鏡、濾光片可以選擇，可以根據您的需求，配置適合不同應用場合的光譜儀，光譜范圍從165nm起至1050nm，光譜分辨率可在0.5到4.0nm之間選擇，奧譜天成也可為OEM客戶提供定制選擇。

ATP5104可以接收SMA905接口光纖輸入或者自由空間輸入的待測光，根據設定的積分時間進行測量，將測量結果通過USB2.0(高速)或者UART輸出。

ATP5104紫外增強高性能光纖光譜儀產品特點：

紫外增強高性能背照式CCD

專門針對紫外優化的光路和結構;

探測器：背照式CCD

探測器像素：3072

超低噪聲CCD信號處理電路

光譜范圍: 165-1100 nm

光譜分辨率: 0.1-4 nm(取決于光譜范圍、狹縫寬度)

光路結構：交叉C-T

積分時間：2ms-130s

供電電源：DC 5V±10% @ <2.3A

18 bit, 570KHz A/DConverter

光輸入接口：SMA905或自由空間

數據輸出接口: USB2.0(High speed)或UART

20針雙排可編程外擴接口

ATP5104紫外增強高性能光纖光譜儀典型應用：

拉曼光譜儀

微量、快速分光光度計;

光譜分析/輻射分光分析/分光光度分析

透過率、吸光度檢測;

反射率檢測;

紫外、可見和短波近紅外

波長檢測

ATP5104紫外增強高性能光纖光譜儀技術參數：