Topsizer激光粒度分析儀既可測量須在液體中分散的樣品，也可測量須在氣體中分散的粉體材料。是廣受客戶贊譽的國產高性能干濕法激光粒度儀。

歐美克 Topsizer激光粒度分析儀產品簡介：

Topsizer激光粒度分析儀是一款高性能激光粒度分析儀。它具有量程寬、重復性好、精度高、測試結果真實、自動化程度高等諸多優點，是廣受客戶贊譽的國產高性能干濕法激光粒度儀。

用途：

既可測量須在液體中分散的樣品，也可測量須在氣體中分散的粉體材料。

歐美克 Topsizer激光粒度分析儀工作原理：

利用顆粒對光的散射現象，根據散射光能的分布推算被測顆粒的粒度分布。通過對光學、機械、電子、計算機等系統的整合和優化，使歐美克激光粒度儀具備重現性良好、分辨能力高、動態測量范圍寬廣、操作簡單方便等優點。

歐美克 Topsizer激光粒度分析儀光學系統

雙光源技術

Topsizer激光粒度分析儀采用紅藍雙光源設計，紅光主光源為進口氦-氖激光器，波長0.6328μm，并有藍光輔助半導體光源，波長0.466μm，彌補了常規設計散射光角度的盲區，很大地提高了對納米級顆粒及少量大顆粒的分辨力。

穩定的激光光源

進口主光源預熱時間短，輸出單模偏振激光偏振比達500:1以上，光束中TEM00模占比達95%以上，且激光功率始終穩定，功率波動小于0.5%，使得儀器的背景很低而且穩定，大大提高了系統對有效信號的分辨能力。

直線光路設計

Topsizer激光粒度分析儀光路系統采用密閉式直線光路設計，無多余反射光學部件造成的雜散光，亦無粉塵污染干擾，同時采用高精度全鋁合金光學平臺，確保光路穩固可靠。

后傅立葉變換單鏡頭設計

單鏡頭設計，采用透鏡后傅立葉變換結構，突破了傅立葉透鏡的光瞳制約，使散射光接收角不受傅立葉鏡頭口徑限制;而且單鏡頭光路中的折射、反射雜散光干擾被減少，可以進一步降低儀器工作時的背景噪聲至很低水平，提高了儀器測量時的信噪比。

長焦距的傅里葉透鏡

Topsizer激光粒度分析儀選用具有長焦距的傅立葉透鏡，這樣增加了測量窗口到光電探測器平面的距離(也就是有效焦距)，從而使光電探測器能夠準確探測到更小散射角度的散射光信號，大大增強了儀器對大顆粒的測試能力，儀器的測量上限達2000μm。

合理分布、高感光度的進口光電探測器

Topsizer激光粒度分析儀光電探測器為特殊定制的進口光電探測器，確保儀器具有較高的分辨力和靈敏度。探測通道數多達98個，由前向、側向、大角度和后向光電探測器組成三維立體檢測系統，探測角范圍達到0.016-140度。結合藍光散射信號，實現了空間全角度范圍散射光能信號的無縫接收，有效保證顆粒散射光能信息的準確獲取。

智能自動對中

智能軟件控制自動對中系統保證了準確的光學對中。智能判斷自動對中既可作為自動測量的一部分，亦可手動在屏幕上單擊鼠標來完成。智能自動對中系統保證了多次測量的重現性。

歐美克 Topsizer激光粒度分析儀高性能分散進樣系統

濕法進樣系統：

標配SCF-108A循環進樣器，采用的燈籠頭下壓式水流循環回路設計，配備大功率準確自動控制攪拌電機，可達3500轉/分鐘的同時減少了氣泡和液體飛濺的產生，并具有效率高的分散、清洗、排干能力。內置功率50W的效率高的管路超聲裝置，超聲強度無級連續可調。標配1000毫升樣品池，可根據客戶需求更換容量。

可選SCF-105B全自動循環進樣器，除加樣外的粒度測試操作均可自動控制完成。進樣池采用316L不銹鋼，配置效率50W底部超聲及速度可達4000轉/分鐘的*密攪拌裝置，均無及連續可調。

根據需要可選更多不同特性(例如微量、微量循環、耐腐蝕等)的濕法進樣器。

干法進樣系統：

標配DPF-110自動干法進樣器，分散氣壓0.05-0.6MPa無級可調，三重可調下料機構設計，配備壓電陶瓷*密振動控制單元及剛玉瓷分散管，可適應于各種樣品及分散強度的測試要求。內置分散壓傳感器和負壓傳感器，測試條件可追溯。測試窗口全密閉，具有負壓保護裝置，可有效防止窗口和主機的污染。

歐美克 Topsizer激光粒度分析儀功能強大的分析軟件

軟件設計模塊化，儀器狀態可視化，操作界面人性化，流程界面清晰明了，擁有導航功能

儀器具備智能化自動化操作。能夠自檢和自動識別進樣系統;每次測量前能自動測量電背景，有效減少電噪聲對測試結果的影響。配置自動化進樣器可以進行全自動干濕法粒度測試，手動測樣亦有清晰的導航測試功能。

完善、開放的樣品特性參數數據庫，具有常用樣品折射率和吸收率參數

具備SOP標準操作流程，減少人為因素的影響，使分析測試流程標準化

SOP測量控制界面：

多種數據分析模型，滿足不同特性樣品的測試需要

體積分布、表面積分布、長度分布和數量分布之間可以相互轉換

歐美克 Topsizer激光粒度分析儀良好的測試性能

寬廣的測量范圍

Topsizer的實測范圍為0.02-2000um，從亞微米顆粒到毫米級顆粒均可一次性實現檢測，能滿足粉體行業對顆粒粒度檢測與控制的各種需求。

寬分布樣品

對大顆粒具有強大測試性能

毫米級玻璃微珠

對納米、亞微米等超細顆粒具備良好識別能力

杰出的分辨能力

Topsizer能夠準確測定樣品中顆粒分布的微小變化，準確反映樣品的實際粒度分布，能夠滿足技術研究和質量控制的需要。

快速的測試速度

Topsizer快速的分散系統為儀器的快速測試提供了良好前提，使常規的測試能在10秒內快速完成，大幅提升了測試的效率，更好的滿足了用戶的需求。

高靈敏度

多達98個光電探測通道，由雙光源及前向、側向、大角度、后向光電探測器組成三維立體無盲區檢測系統，大探測角度可達140度。每次測試之前，軟件自動檢測信噪度，使儀器對大小顆粒的微小變化有著很高的靈敏度。

良好適應性

可選具有強分散能力分散系統，即使對于超大密度的金屬粉末、玻璃粉末均有良好的分散效果而不沉淀，從而滿足各種不同密度的顆粒粒度測試的需要。